家，调取了创科世纪芯片的研发原始数据、生产工艺日志、第三方检测报告，还实地抽检了三家海外客户的库存产品，最终验证结果与创科公布的数据完全一致——核心模块误差值稳定在0.02-0.023毫米，高温、低温等极端工况下的稳定性均优于行业标准。“创科世纪从30%良品率到92%的技术突破，有完整的实验数据、工艺优化记录佐证，符合半导体行业技术迭代规律，其核心技术具备原创性与先进性。”公告特别强调，“部分机构散布的‘技术造假’‘数据篡改’言论，缺乏任何有效证据支撑，实质是为阻碍竞争对手发展的恶意竞争行为。”