刘工在测试小结中指出：“5 种国产晶体管中，3AG1、3AK22 在适配性上表现最优，可满足多数加密场景需求；3AX83、3AK20 需针对高负载算法优化电路匹配，3AX81 则需控制批次间的性能波动，整体适配性符合预期。”
四、进口芯片的加密适配性测试
孙工带领小组开展进口芯片测试，同样围绕 “信号处理速度”“算法兼容性”，并额外增加 “与国产电路匹配度” 测试，因进口芯片需与国产电阻、电容搭配使用，匹配度直接影响整体加密性能。
信号处理速度测试显示进口芯片优势明显：苏联 KT-15 处理单组加密逻辑运算耗时平均 0.04μs，仅为国产 3AG1 的 66.7%；东欧 m-08 在 128 位密钥生成测试中，平均耗时 0.8 秒，比国产芯片样品（上海无线电二厂试制）快 0.3 秒，符合 “密钥生成≤1 秒” 的指标要求。
算法兼容性测试中，KT-12、KT-15 在 3 种算法下适配成功率均为 100%，无信号失真；m-08 在增强算法下适配成功率 96.7%，主要因与国产电容的容抗匹配偏差，导致 1 次数据传输延迟。
与国产电路匹配度测试暴露出 “接口差异”：KT-12 的引脚间距与国产电路板标准间距存在 0.1mm 偏差，需加装转接座才能正常工作，增加了电路复杂度；m-08 虽引脚适配，但电源电压需求（5V）与国产电路标准（3.3V）不符，需额外设计稳压模块，影响设备小型化。
孙工总结进口芯片适配性：“性能上完全满足加密需求，且稳定性优于国产样品，但与国产电路的匹配需额外设计，增加了研发成本与周期，需在性能优势与适配成本间权衡。”
五、历史补充与证据：适配性测试原始记录
1958 年 5 月的《元器件加密适配性测试原始记录册》（档案号：SP-1958-021），现存于通信技术测试档案库，包含 5 种国产晶体管、3 种进口芯片的每轮测试数据，共 120 页，每页均有测试员（刘工、孙工等）签名，数据可追溯。
记录册中 3AG1 晶体管的测试页显示：5 月日第 1 次测试，基础算法下信号处理耗时 0.058μs；5 月日第 2 次测试 0.062μs；5 月日第 3 次测试 0.060μs，平均值 0.06μs，与后续汇总数据一致，验证了测试的重复性与准确性。
进口 KT-15 芯片的匹配度测试记录更具体：“5 月日测试，与国产电阻 R1（1kΩ±5%）搭配时，加密信号纹波系数 0.02%；与进口电阻 R2（1kΩ±2%）搭配时，纹波系数 0.01%，证明国产电阻精度偏差对进口芯片性能有轻微影响，但在允许范围内。”
记录册中还附有 “适配性故障分析图”：3AK20 在增强算法下的信号失真波形图显示，失真发生在逻辑运算的 “进位环节”，技术团队批注 “需增加补偿电容，提升该环节的电流稳定性”，为后续电路优化提供了直接依据。
档案末尾的阶段性结论写道：“国产晶体管适配性基本达标，部分型号需电路优化；进口芯片适配性优秀，但存在匹配成本；建议核心加密模块采用‘进口芯片 + 国产优化电路’，普通模块采用‘国产晶体管’，平衡性能与成本。”
六、稳定性测试的实施与维度
李工带领稳定性测试组，围绕 “极端环境耐受”“长期运行衰减” 两个核心维度展开测试，每个维度设计 3 种测试场景，覆盖野战实战中可能遇到的高低温、震动、连续工作等情况。
高低温稳定性测试在 - 30c至 50c的恒温箱中进行：将元器件置于不同温度点，保持 2 小时后测试加密性能，国产 3AG1 在 - 30c时加密错误率 1.2%，50c时 1.5%；进口 KT-15 在 - 30c时错误率 0.8%，50c时 1.0%，进口芯片在极端温度下稳定性更优。
震动稳定性测试采用 10g 加速度、10-500Hz 频率的震动台：测试 4 小时后，国产 3AK22 的加密信号衰减率 3.5%，进口 m-08 衰减率 2.1%；其中国产 3AX83 因引脚焊接工艺，在 500Hz 高频震动下出现 1 次接触不良，需优化封装结构。
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长期运行稳定性测试持续小时：元器件在常温下连续处理加密数据，每小时记录性能参数，国产 3AG1 的参数漂移率 8%（接近指标上限），进口 KT-15 漂移率 5%，均满足 “≤8%” 的要求，但国产元器件的漂移速度随时间增加更明显。
李